ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/110145Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Панков, С. Ю. | ru |
| dc.contributor.author | Жилова, О. В. | ru |
| dc.contributor.author | Макагонов, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Pankov, S. Yu. | en |
| dc.contributor.author | Zhilova, O. V. | en |
| dc.contributor.author | Makagonov, V. A. | en |
| dc.date.accessioned | 2022-04-06T10:51:14Z | - |
| dc.date.available | 2022-04-06T10:51:14Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Панков С. Ю. Влияние аморфного углерода на структуру и электрические свойства тонких пленок (ZnO/С)81 / С. Ю. Панков, О. В. Жилова, В. А. Макагонов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 110-111. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/110145 | - |
| dc.description.abstract | (ZnO/C)81 thin films was prepared by ion beam sputtering. Analysis of the structure for resulting thin films showed that the ZnO layers are in the nanocrystalline state, and the carbon layers are in amorphous state. By adding amorphous carbon, the process of recrystallization in (ZnO/C)81 thin films was reduced in comparison with ZnO films (grain size increase). | en |
| dc.description.sponsorship | Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки в рамках проектной части государственного задания (проект № 3.1867.2017/4.6). | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Уральский федеральный университет | ru |
| dc.relation.ispartof | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018) | ru |
| dc.title | Влияние аморфного углерода на структуру и электрические свойства тонких пленок (ZnO/С)81 | ru |
| dc.title.alternative | INFLUENCE OF AMORPHOUS CARBON ON THE STRUCTURE AND ELECTRICAL PROPERTIES OF (ZnO/С)81 THIN FILMS | en |
| dc.type | Conference Paper | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.conference.name | V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова | ru |
| dc.conference.date | 14.05.2018-18.05.2018 | - |
| local.description.firstpage | 110 | - |
| local.description.lastpage | 111 | - |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2018_1_063.pdf | 517,65 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.