Исследование тонких пленок висмута методами электронной микроскопии

Колосов, В. Ю.; Юшков, А. А.; Веретенников, Л. М.; Kolosov, V. Yu.; Yushkov, A. A.; Veretennikov, L. M.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/110137

Title:	Исследование тонких пленок висмута методами электронной микроскопии
Other Titles:	INVESTIGATION OF THIN BISMUTH FILMS BY ELECTRON MICROSCOPY
Authors:	Колосов, В. Ю. Юшков, А. А. Веретенников, Л. М. Kolosov, V. Yu. Yushkov, A. A. Veretennikov, L. M.
Issue Date:	2018
Publisher:	Уральский федеральный университет
Citation:	Колосов В. Ю. Исследование тонких пленок висмута методами электронной микроскопии / В. Ю. Колосов, А. А. Юшков, Л. М. Веретенников // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 99-100.
Abstract:	Vacuum-deposited thin bismuth films were investigated by transmission electron microscopy. Crystal lattice bending in range 7 – 57 deg/μm and preferred crystallographic orientations [111] and [122] were observed.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/110137
Conference name:	V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова
Conference date:	14.05.2018-18.05.2018
Origin:	Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018)
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
fti_2018_1_056.pdf		340,62 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record