ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/110137| Название: | Исследование тонких пленок висмута методами электронной микроскопии |
| Другие названия: | INVESTIGATION OF THIN BISMUTH FILMS BY ELECTRON MICROSCOPY |
| Авторы: | Колосов, В. Ю. Юшков, А. А. Веретенников, Л. М. Kolosov, V. Yu. Yushkov, A. A. Veretennikov, L. M. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Уральский федеральный университет |
| Библиографическое описание: | Колосов В. Ю. Исследование тонких пленок висмута методами электронной микроскопии / В. Ю. Колосов, А. А. Юшков, Л. М. Веретенников // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 99-100. |
| Аннотация: | Vacuum-deposited thin bismuth films were investigated by transmission electron microscopy. Crystal lattice bending in range 7 – 57 deg/μm and preferred crystallographic orientations [111] and [122] were observed. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/110137 |
| Конференция/семинар: | V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова |
| Дата конференции/семинара: | 14.05.2018-18.05.2018 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018) |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2018_1_056.pdf | 340,62 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.