Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/106955
Название: ТЕРМОЭДС ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР In2O3/SiO2
Другие названия: THERMOEMF OF THIN-FILM STRUCTURES In2O3/SiO2
Авторы: Chetverikova, A. P.
Kashirin, M. A.
Makagonov, V. A.
Foshin, V. A.
Четверикова, А. П.
Каширин, М. А.
Макагонов, В. А.
Фошин, В. А.
Дата публикации: 2020
Издатель: УрФУ
Библиографическое описание: ТЕРМОЭДС ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР In2O3/SiO2 / А. П. Четверикова, М. А. Каширин, В. А. Макагонов и др. // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 728-729.
Аннотация: Thin films (In2O3/SiO2)25 were by ion-beam sputtering. The effect of heat treatment on the phase composition and thermopower is studied. Increasing of annealing temperature – a thermopower was decrease. After annealing, the structure of thin films is preserved up to a temperature of 500°C.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/106955
Конференция/семинар: VII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университета
Дата конференции/семинара: 18.05.2020-22.05.2020
Сведения о поддержке: Данная работа выполнена при поддержке РФФИ (Грант №19-48-360010 р_а).
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020)
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2020_403.pdf321,65 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.