Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elar.urfu.ru/handle/10995/104189
Название: | Анализ поверхности сильноосновных мембран после температурного воздействия методом АСМ |
Другие названия: | Surface analysis of strongly basic membranes after temperature treatment by the AFM method |
Авторы: | Акберова, Э. М. Akberova, E. M. |
Дата публикации: | 2017 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Акберова Э. М. Анализ поверхности сильноосновных мембран после температурного воздействия методом АСМ / Э. М. Акберова // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 137 p. |
Аннотация: | Различия в микроструктуре гетерогенных анионообменных мембран после температурного воздействия визуализированы методом АСМ. Расширение пор и микротрещин, а также изменение формы и геометрии зерен ионообменника после нагревания вызывают возрастание геометрической неоднородности поверхности сильноосновных мембран. Differences in the microstructure of heterogeneous anion-exchange membranes after temperature exposure are visualized by AFM method. Expansion of pores and microcracks, as well as changes in the shape and geometry of the ion exchanger grains after heating, cause an increase in the geometric heterogeneity of the surface of the strongly basic membranes. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104189 |
Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
Сведения о поддержке: | Работа выполнена при финансовой поддержке гранта РФФИ (проект № 16-38-00572 мол_а). |
Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_080.pdf | 399,38 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.