Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104185
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Беглецова, Н. Н. | ru |
dc.contributor.author | Горбачев, И. А. | ru |
dc.contributor.author | Селифонова, Е. И. | ru |
dc.contributor.author | Чернова, Р. К. | ru |
dc.contributor.author | Глуховской, Е. Г. | ru |
dc.contributor.author | Begletsova, N. N. | en |
dc.contributor.author | Gorbachev, I. A. | en |
dc.contributor.author | Selifonova, E. I. | en |
dc.contributor.author | Chernova, R. K. | en |
dc.contributor.author | Glukhovskoy, E. G. | en |
dc.date.accessioned | 2021-09-20T13:51:42Z | - |
dc.date.available | 2021-09-20T13:51:42Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Исследование наночастиц меди методом сканирующей зондовой микроскопии / Н. Н. Беглецова, И. А. Горбачев, Е. И. Селифонова и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 131 p. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-0-7 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104185 | - |
dc.description.abstract | В данной работе получали мицеллярный раствор с НЧ меди, стабилизированными ПАВ анионного типа — додецилсульфатом натрия (ДДС) C12H25NaO4S в щелочной среде при pH ≈ 10, в качестве восстановителя использовали гидразин гидрат (ГГ) N2H4∙H2O. Спектрофотометрическое исследование полученного раствора на спектрофотометре SHIMADZU UV-2550 в диапазоне длин волн 190-900 нм показало наличие пика поглощения излучения при длине волны 580 нм, соответствующего НЧ меди. | ru |
dc.description.abstract | In this work a micellar solution was prepared with copper NPs stabilized by an anionic surfactant — sodium dodecyl sulfate (SDS) C12H25NaO4S at pH ≈ 10. Hydrazine hydrate (HH) N2H4∙H2O was used as the reducing agent. Spectrophotometric study of the obtained solution by means of SHIMADZU UV-2550 spectrophotometer in the wavelength range 190-900 nm is showed the presence of a radiation absorption peak at 580 nm corresponding of copper NPs. The study of images of copper NPs on the glass substrates with an ITO layer (Indium Tin Oxide) was carried out by scanning probe microscopy (SPM) in atomic-force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) by means of NanoEducator. The AFM images were obtained and the current-voltage characteristics of the copper NPs were recorded (Fig. 1 (a) and (б), respectively). | en |
dc.description.sponsorship | Работа выполнена при финансовой поддержке гранта Российского научного фонда (проект №14-12-00275) и Национального исследовательского Саратовского государственного университета. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Ural Federal University | en |
dc.relation | info:eu-repo/grantAgreement/RSF//14-12-00275 | en |
dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 | ru |
dc.title | Исследование наночастиц меди методом сканирующей зондовой микроскопии | ru |
dc.title.alternative | Investigation of copper nanoparticles by the method of scanning probe microscopy | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" | en |
dc.conference.date | 27.08.2017-30.08.2017 | - |
local.description.firstpage | 131 | - |
local.description.lastpage | 132 | - |
local.description.order | P-14 | - |
local.fund.rsf | 14-12-00275 | - |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_077.pdf | 324,65 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.