Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104181
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorKrikun, A. S.en
dc.contributor.authorShaposhnikov, A. N.en
dc.contributor.authorKaravainikov, A. V.en
dc.contributor.authorProkopov, A. R.en
dc.contributor.authorMikhailova, T. V.en
dc.contributor.authorBerzhansky, V. N.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:41Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:41Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationApplication of scanning probe microscopy methods to control the synthesis technology of multilayer structures with Bi-substituted iron garnets / A. S. Krikun, A. N. Shaposhnikov, A. V. Karavainikov et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 124 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104181-
dc.description.abstractAuthors present the synthesis technology in which a lower surface roughness of the layers in multilayer structure with Bi-substituted iron garnets can be achieved through simultaneous crystallization annealing of the bottom Bi-substituted iron garnet layer and the top layer of SiO2.en
dc.description.sponsorshipThe authors acknowledge support by the RF Ministry of Education and Science (project no.3.7126.2017).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleApplication of scanning probe microscopy methods to control the synthesis technology of multilayer structures with Bi-substituted iron garnetsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage124-
local.description.lastpage125-
local.description.orderP-10-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_073.pdf566,76 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.