Влияние градиента состава на доменную структуру в монокристаллах ниобата лития и танталата лития

Пряхина, В. И.; Ахматханов, А. Р.; Грешняков, Е. Д.; Лисьих, Б. И.; Зеленовский, П. С.; Шур, В. Я.; Bartasyte, A.; Pryakhina, V. I.; Akhmatkhanov, A. R.; Greshnyakov, E. D.; Lisjikh, B. I.; Zelenovskiy, P. S.; Shur, V. Ya.; Bartasyte, A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104156

Название:	Влияние градиента состава на доменную структуру в монокристаллах ниобата лития и танталата лития
Другие названия:	Influence of composition gradient on domain structure in lithium niobate and lithium tantalate crystals
Авторы:	Пряхина, В. И. Ахматханов, А. Р. Грешняков, Е. Д. Лисьих, Б. И. Зеленовский, П. С. Шур, В. Я. Bartasyte, A. Pryakhina, V. I. Akhmatkhanov, A. R. Greshnyakov, E. D. Lisjikh, B. I. Zelenovskiy, P. S. Shur, V. Ya. Bartasyte, A.
Дата публикации:	2017
Издатель:	Ural Federal University
Библиографическое описание:	Влияние градиента состава на доменную структуру в монокристаллах ниобата лития и танталата лития / В. И. Пряхина, А. Р. Ахматханов, Е. Д. Грешняков и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 82 p.
Аннотация:	Исследовалась доменная структура в монокристаллах ниобата лития (LN) и танталата лития (LT) с градиентным составом двух типов: отклонение от стехиометрии, полученное при высокотемпературном VTE отжиге, и восстановление при ионно-плазменном облучении в атмосфере Ar. The domain structure in lithium niobate (LN) and lithium tantalate (LT) single crystals with two types of composition gradients: stoichiometry deviation from VTE process and reduction with plasma-source ion irradiation.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104156
Конференция/семинар:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке:	В работе использовалось оборудование Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ.
Источники:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_050.pdf		337,02 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать полное описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.