Исследование фотопроводимости индивидуальных квантовых точек InAs/GaAs(001) методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии

Филатов, Д. О.; Казанцева, И. А.; Байдусь, Н. В.; Горшков, А. П.; Мишкин, В. П.; Filatov, D. O.; Kazantseva, I. A.; Baidus’, N. V.; Gorshkov, A. P.; Mishkin, V. P.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elar.urfu.ru/handle/10995/104145

Title:	Исследование фотопроводимости индивидуальных квантовых точек InAs/GaAs(001) методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии
Other Titles:	Investigation of photoconductivity of individual InAs/GaAs(001) quantum dots by Scanning Near-field Optical Microscopy
Authors:	Филатов, Д. О. Казанцева, И. А. Байдусь, Н. В. Горшков, А. П. Мишкин, В. П. Filatov, D. O. Kazantseva, I. A. Baidus’, N. V. Gorshkov, A. P. Mishkin, V. P.
Issue Date:	2017
Publisher:	Ural Federal University
Citation:	Исследование фотопроводимости индивидуальных квантовых точек InAs/GaAs(001) методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии / Д. О. Филатов, И. А. Казанцева, Н. В. Байдусь и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 66 p.
Abstract:	Исследовано распределение фототока по поверхности Ga s p–i–n диода cо встроенными квантовыми точками (КТ) In s при фотовозбуждении зондом сканирующего ближнепольного оптического микроскопа (СБОМ). На СБОМ изображениях фототока наблюдались неоднородности, связанные с межзонным поглощением в КТ. The photocurrent distribution in GaAs p–i–n diode with embedded InAs quantum dots (QDs) was studied with the photoexcitation through a Scanning Near-field Probe Microscope (SNOM) probe. The inhomogeneities related to the interband absorption in the QDs were observed in the photocurrent SNOM images.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104145
Conference name:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Sponsorship:	Работа выполнена при поддержке РФФИ (16-02-00450).
Origin:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:	Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-0-7_2017_040.pdf		341,68 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record