ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104145| Название: | Исследование фотопроводимости индивидуальных квантовых точек InAs/GaAs(001) методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии |
| Другие названия: | Investigation of photoconductivity of individual InAs/GaAs(001) quantum dots by Scanning Near-field Optical Microscopy |
| Авторы: | Филатов, Д. О. Казанцева, И. А. Байдусь, Н. В. Горшков, А. П. Мишкин, В. П. Filatov, D. O. Kazantseva, I. A. Baidus’, N. V. Gorshkov, A. P. Mishkin, V. P. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Исследование фотопроводимости индивидуальных квантовых точек InAs/GaAs(001) методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии / Д. О. Филатов, И. А. Казанцева, Н. В. Байдусь и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 66 p. |
| Аннотация: | Исследовано распределение фототока по поверхности Ga s p–i–n диода cо встроенными квантовыми точками (КТ) In s при фотовозбуждении зондом сканирующего ближнепольного оптического микроскопа (СБОМ). На СБОМ изображениях фототока наблюдались неоднородности, связанные с межзонным поглощением в КТ. The photocurrent distribution in GaAs p–i–n diode with embedded InAs quantum dots (QDs) was studied with the photoexcitation through a Scanning Near-field Probe Microscope (SNOM) probe. The inhomogeneities related to the interband absorption in the QDs were observed in the photocurrent SNOM images. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104145 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке РФФИ (16-02-00450). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_040.pdf | 341,68 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.