ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104141| Название: | Nanoscale domain structures and local property characterization of multiferroic materials via Scanning Probe Microscopy |
| Авторы: | Zhao, K. Y. Zeng, H. R. Zou, J. Yu, H. Z. Zeng, J. T. Li, G. R. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Nanoscale domain structures and local property characterization of multiferroic materials via Scanning Probe Microscopy / K. Y. Zhao, H. R. Zeng, J. Zou et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 63-63 p. |
| Аннотация: | In this work, high resolution, scanning thermal-piezoelectric microscopy (SThPM) was developed ased on ased on the previous piezoresponse force microscopy and 3ω-scanning thermal microscopy, and was applied to perform studies of nanoscale domains and their electrical, thermal behavior of multiferroic materials. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104141 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_037.pdf | 115,19 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.