Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104140
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSchultheiß, J.en
dc.contributor.authorZhukov, S.en
dc.contributor.authorKhachaturyan, R.en
dc.contributor.authorGenenko, Y. A.en
dc.contributor.authorKoruza, J.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationExperimental approach for investigating polarization and strain switching dynamics in ferroelectric/ferroelastic materials / J. Schultheiß, S. Zhukov, R. Khachaturyan et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 62-62 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104140-
dc.description.abstractAn experimental method for simultaneous time-resolved measurements of polarization and strain was developed. The presence of multiple events during polarization switching of multiaxial ferroelectric/ferroelastic materials was revealed and characteristic times and activation fields were determined.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleExperimental approach for investigating polarization and strain switching dynamics in ferroelectric/ferroelastic materialsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage62-
local.description.lastpage62-
local.description.orderO-17-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_036.pdf219,94 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.