Сканирующая зондовая микроскопия в условиях сверхвысокого вакуума. Технологии и возможности Scienta Omicron

Минин, М. Г.; Кузина, Н. В.; Minin, M. G.; Kuzmina, N. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104139

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Минин, М. Г.	ru
dc.contributor.author	Кузина, Н. В.	ru
dc.contributor.author	Minin, M. G.	en
dc.contributor.author	Kuzmina, N. V.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:36Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:36Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Минин М. Г. Сканирующая зондовая микроскопия в условиях сверхвысокого вакуума. Технологии и возможности Scienta Omicron / М. Г. Минин, Н. В. Кузина // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 61-61 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104139	-
dc.description.abstract	Настоящая работа рассказывает о сканирующем зондовом микроскопе Fermi DryCoolTM, объединяющем в себе сухой криостат со сверхточной сканирующей головкой и сканером QPlus для исследований зондовыми методами в условиях сверхвысокого вакуума при температурах ниже 10К.	ru
dc.description.abstract	The goal of the present work is to introduce the Fermi DryCoolTM SPM combining a cryogen-Free cooling system with a state-of-the art SPM head for high resolution STM and QPlus imaging and spectroscopy in UHV for extended operations at low (<10K) temperatures.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Сканирующая зондовая микроскопия в условиях сверхвысокого вакуума. Технологии и возможности Scienta Omicron	ru
dc.title.alternative	Scanning Probe Microscopy under Ultra High Vacuum. Technologies and Advantages from Scienta Omicron	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	61	-
local.description.lastpage	61	-
local.description.order	O-16	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_035.pdf		372,11 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.