Последние разработки Oxford Instruments Asylum Research и Anasys Instruments в области АСМ и родственных методов

Неудачина, В. С.; Neudachina, V. S.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104136

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Неудачина, В. С.	ru
dc.contributor.author	Neudachina, V. S.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:36Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:36Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Неудачина В. С. Последние разработки Oxford Instruments Asylum Research и Anasys Instruments в области АСМ и родственных методов / В. С. Неудачина // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 56-56 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104136	-
dc.description.abstract	В докладе обсуждаются последние разработки ведущих мировых производителей оборудования для реализации АСМ и родственных методов – Oxford Instruments Asylum Research и Anasys Instruments – для решения задач материаловедения.	ru
dc.description.abstract	The report reviews the most recent developments proposed by leading international manufacturers of AFM and AFM-based equipment, Oxford Instruments Asylum Research and Anasys Instruments, for material science and biological applications.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Последние разработки Oxford Instruments Asylum Research и Anasys Instruments в области АСМ и родственных методов	ru
dc.title.alternative	Recent AFM-Based Developments by Oxford Instruments Asylum Research and Anasys Instruments	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	56	-
local.description.lastpage	56	-
local.description.order	O-13	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_032.pdf		278,89 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.