Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104132
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorШубин, А. Б.ru
dc.contributor.authorShubin, A. B.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:35Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:35Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationШубин А. Б. Инновационные решения в области виброзащиты научного и технологического оборудования / А. Б. Шубин // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 51-51 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104132-
dc.description.abstractНеобходимость получения предельных разрешений, манипуляции с нано и микрообъектами, а также создание наноструктур, требуют технических решений как для максимального подавления шумов от источников вибраций, так и максимальной защиты (изоляции) исполнительных элементов технологического оборудования и чувствительных элементов измерительного оборудования от воздействия шумового спектра в местах расположения. Компания Остек предлагает комплекс инновационных технических решений для борьбы с источниками вибраций и их воздействием для защиты атомно-силовых микроскопов, электронных просвечивающих и сканирующих микроскопов, оптических и интерференционных микроскопов высокого разрешения, зондовых станций, установок проекционной литографии, сверхточных систем измерения веса и др. приборов и устройств, требующих максимальной виброзащищенности для успешной эксплуатации.ru
dc.description.abstractThe need to obtain maximum resolution, manipulations with nano and microobjects, as well as the creation of nanostructures, require technical solutions both for maximum suppression of noise from vibration sources and for maximum protection (isolation) of executive elements of process equipment and sensing elements of measuring equipment against noise spectrum in the places of location. Ostec company offers a range of innovative technical solutions for controlling vibration sources and their impact for the protection of atomic force microscopes, electronic transmission and scanning microscopes, high-resolution optical and interference microscopes, probe stations, projection lithography sets, ultra-precise weighing systems and other devices that require maximum vibration protection for successful operation.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleИнновационные решения в области виброзащиты научного и технологического оборудованияru
dc.title.alternativeInnovative solutions to protect scientific and technological equipment from vibrationsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage51-
local.description.lastpage51-
local.description.orderO-10-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_029.pdf275,96 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.