Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104107
Название: Зависимость электрического поля от скорости в окрестности движущейся сегнетоэлектрической доменной стенки
Другие названия: The velocity dependence of the electrical field near the moving ferroelectric domain wall
Авторы: Удалов, A. Р.
Шур, В. Я.
Udalov, A. R.
Shur, V. Ya.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Удалов A. Р. Зависимость электрического поля от скорости в окрестности движущейся сегнетоэлектрической доменной стенки / A. Р. Удалов, В. Я. Шур // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 266 p.
Аннотация: Проведено теоретическое исследование пространственного распределения электрического поля в сегнетоэлектрическом конденсаторе вблизи движущейся доменной стенки с учетом запаздывания объемного экранирования и диэлектрических зазоров, что является обобщением аналитических результатов из работ [1,2].
The theoretical investigation of the electric field spatial distribution near the moving domain wall in the ferroelectric capacitor was conducted. The retardation of the screening of residual depolarization field and dead layers presence were taken into account. Current study is generalization of the analytical results of works [1,2].
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104107
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при частичной поддержке Российского Научного Фонда (проект №14-12-00826).
Карточка проекта РНФ: 14-12-00826
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_157.pdf329,73 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.