1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104106
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorAlikin, D. O.en
dc.contributor.authorTurygin, A. P.en
dc.contributor.authorAbramov, A. S.en
dc.contributor.authorKoryakovsky, I. V.en
dc.contributor.authorWalker, J.en
dc.contributor.authorAraujo, E. B.en
dc.contributor.authorRojac, T.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorKholkin, A. L.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:31Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:31Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationFunctional properties of the charged domain walls and phase boundaries in the BiFeO3 thin films and bulk ceramics / D. O. Alikin, A. P. Turygin, A. S. Abramov et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 264 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104106-
dc.description.abstractIn this contribution, we go deeper in understanding the local properties of the interfaces in BFO thin films and RE-BFO ceramics in order to build a comprehensive behavioral model that captures both local and macroscopic electromechanical properties in the same materials.en
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use "Modern nanotechnology" UrFU was used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleFunctional properties of the charged domain walls and phase boundaries in the BiFeO3 thin films and bulk ceramicsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage264-
local.description.lastpage265-
local.description.orderP-93-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_156.pdf458,84 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.