ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104099| Название: | Магнитно-силовая микроскопия для исследования спин-поляризованных токовых эффектов в гетероэпитаксиальных ферромагнитных и антиферромагнитных структурах |
| Другие названия: | Application of magnetic force microscopy for spin-polarized current effect investigation in heteroepitaxial ferro- and antiferromagnetic structures |
| Авторы: | Михайлов, Г. М. Фомин, Л. А. Черных, А. В. Mikhailov, G. M. Fomin, L. A. Chernykh, A. V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Михайлов Г. М. Магнитно-силовая микроскопия для исследования спин-поляризованных токовых эффектов в гетероэпитаксиальных ферромагнитных и антиферромагнитных структурах / Г. М. Михайлов, Л. А. Фомин, А. В. Черных // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 25 p. |
| Аннотация: | С помощью МСМ измерений были исследованы спин-поляризованные токовые эффекты в гетероэпитаксиальных ФМ и АФМ структурах. The magnetic contrast and magnetoresistance of heteroepitaxial Fe(001)/Mo(001)/Rsapphire, Ni(111)/R-sapphire and Fe50Mn50/Fe/Mo/R-sapphire have been measured. Investigation has been made of the current and magnetic annealing effects on magnetic states of the structures supported by micromagnetic calculations. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104099 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_015.pdf | 482,02 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.