Магнитно-силовая микроскопия для исследования спин-поляризованных токовых эффектов в гетероэпитаксиальных ферромагнитных и антиферромагнитных структурах

Михайлов, Г. М.; Фомин, Л. А.; Черных, А. В.; Mikhailov, G. M.; Fomin, L. A.; Chernykh, A. V.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104099

Title:	Магнитно-силовая микроскопия для исследования спин-поляризованных токовых эффектов в гетероэпитаксиальных ферромагнитных и антиферромагнитных структурах
Other Titles:	Application of magnetic force microscopy for spin-polarized current effect investigation in heteroepitaxial ferro- and antiferromagnetic structures
Authors:	Михайлов, Г. М. Фомин, Л. А. Черных, А. В. Mikhailov, G. M. Fomin, L. A. Chernykh, A. V.
Issue Date:	2017
Publisher:	Ural Federal University
Citation:	Михайлов Г. М. Магнитно-силовая микроскопия для исследования спин-поляризованных токовых эффектов в гетероэпитаксиальных ферромагнитных и антиферромагнитных структурах / Г. М. Михайлов, Л. А. Фомин, А. В. Черных // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 25 p.
Abstract:	С помощью МСМ измерений были исследованы спин-поляризованные токовые эффекты в гетероэпитаксиальных ФМ и АФМ структурах. The magnetic contrast and magnetoresistance of heteroepitaxial Fe(001)/Mo(001)/Rsapphire, Ni(111)/R-sapphire and Fe50Mn50/Fe/Mo/R-sapphire have been measured. Investigation has been made of the current and magnetic annealing effects on magnetic states of the structures supported by micromagnetic calculations.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104099
Conference name:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Origin:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:	Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-0-7_2017_015.pdf		482,02 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar