Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104092
Название: Диэлектрические и мессбауэровские исследования керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) с гигантским диэлектрическим откликом
Другие названия: Dielectric and Mossbauer studies of ASnO3 - and AFe1/2B1/2O3 - based ceramics (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) exhibiting giant dielectric response
Авторы: Раевская, С. И.
Savinov, M.
Пушкарев, А. В.
Олехнович, Н. М.
Малицкая, М. А.
Радюш, Ю. В.
Кубрин, С. П.
Раевский, И. П.
Титов, В. В.
Захарченко, И. Н.
Ситало, Е. И.
Raevskaya, S. I.
Savinov, M.
Pushkarev, A. V.
Olekhnovich, N. M.
Malitskaya, M. A.
Radyush, Y. V.
Kubrin, S. P.
Raevski, I. P.
Titov, V. V.
Zakharchenko, I. N.
Sitalo, E. I.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Диэлектрические и мессбауэровские исследования керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) с гигантским диэлектрическим откликом / С. И. Раевская, M. Savinov, А. В. Пушкарев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 245-245 p.
Аннотация: Установлено, что гигантские значения диэлектрической проницаемости керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) обусловлены релаксационной поляризацией Максвелл-Вагнеровского типа. Из исследований мессбауэровских спектров получена информация о валентности Sn и Fe в данных материалах.
Giant dielectric permittivity of ASnO3 - and AFe1/2B1/2O3 - based ceramics (A-Ba, Cd; B-Nb, Sb) was shown to be due to Maxwell-Wagner relaxation. Information on the valence of Sn and Fe ions was o tained from Мöss auer studies.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104092
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при поддержке Проектной части Госзадания Минобрнауки № 3.1649.2017/ПЧ.
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_143.pdf280,75 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.