Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104092
Название: | Диэлектрические и мессбауэровские исследования керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) с гигантским диэлектрическим откликом |
Другие названия: | Dielectric and Mossbauer studies of ASnO3 - and AFe1/2B1/2O3 - based ceramics (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) exhibiting giant dielectric response |
Авторы: | Раевская, С. И. Savinov, M. Пушкарев, А. В. Олехнович, Н. М. Малицкая, М. А. Радюш, Ю. В. Кубрин, С. П. Раевский, И. П. Титов, В. В. Захарченко, И. Н. Ситало, Е. И. Raevskaya, S. I. Savinov, M. Pushkarev, A. V. Olekhnovich, N. M. Malitskaya, M. A. Radyush, Y. V. Kubrin, S. P. Raevski, I. P. Titov, V. V. Zakharchenko, I. N. Sitalo, E. I. |
Дата публикации: | 2017 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Диэлектрические и мессбауэровские исследования керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) с гигантским диэлектрическим откликом / С. И. Раевская, M. Savinov, А. В. Пушкарев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 245-245 p. |
Аннотация: | Установлено, что гигантские значения диэлектрической проницаемости керамик на основе ASnO3 и AFe1/2B1/2O3 (A-Ba, Cd; B- Nb, Sb) обусловлены релаксационной поляризацией Максвелл-Вагнеровского типа. Из исследований мессбауэровских спектров получена информация о валентности Sn и Fe в данных материалах. Giant dielectric permittivity of ASnO3 - and AFe1/2B1/2O3 - based ceramics (A-Ba, Cd; B-Nb, Sb) was shown to be due to Maxwell-Wagner relaxation. Information on the valence of Sn and Fe ions was o tained from Мöss auer studies. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104092 |
Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке Проектной части Госзадания Минобрнауки № 3.1649.2017/ПЧ. |
Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_143.pdf | 280,75 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.