Исследование локального переключения поляризации на неполярном срезе ниобата лития при облучении ионным пучком

Турыгин, А. П.; Власов, Е. О.; Чезганов, Д. С.; Шур, В. Я.; Turygin, A. P.; Vlasov, E. O.; Chezganov, D. S.; Shur, V. Ya.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104086

Название:	Исследование локального переключения поляризации на неполярном срезе ниобата лития при облучении ионным пучком
Другие названия:	Investigation of local polarization switching on nonpolar surface of lithium niobate single crystals under beam irradiation
Авторы:	Турыгин, А. П. Власов, Е. О. Чезганов, Д. С. Шур, В. Я. Turygin, A. P. Vlasov, E. O. Chezganov, D. S. Shur, V. Ya.
Дата публикации:	2017
Издатель:	Ural Federal University
Библиографическое описание:	Исследование локального переключения поляризации на неполярном срезе ниобата лития при облучении ионным пучком / А. П. Турыгин, Е. О. Власов, Д. С. Чезганов и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 237-237 p.
Аннотация:	Было проведено исследование формирования изолированных доменов на неполярном Y-срезе ниобата лития, легированного оксидом магния под действием ионного пучка. The formation of isolated domains under the action of ion beam irradiation on a non-polar Y-cut of lithium niobate crystal doped by magnesium oxide was studied.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104086
Конференция/семинар:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке:	В работе использовалось оборудование Уральского центра коллективного пользования "Современные Нанотехнологии" УрФУ. Работа выполнена при поддержке Российского Научного Фонда (грант 14-12-00826).
Карточка проекта РНФ:	14-12-00826
Источники:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_138.pdf		279,66 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать полное описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.