Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104080
Название: Исследование трибологических свойств поверхности полимерных термоэластопластов в режиме латеральных сил АСМ
Другие названия: Tribology properties investigation of the thermoplastic elastomers surface with the AFM lateral forces mode
Авторы: Кузнецова, Т. А.
Зубарь, Т. И.
Лапицкая, В. А.
Чижик, С. А.
Диденко, А. Л.
Светличный, В. М.
Вылегжанина, М. Э.
Суханова, Т. Е.
Kuznetsova, T. A.
Zubar, T. I.
Lapitskaja, V. A.
Chizhik, S. A.
Didenko, A. L.
Svetlichnyi, V. M.
Vylegzhanina, M. E.
Sukhanova, T. E.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Исследование трибологических свойств поверхности полимерных термоэластопластов в режиме латеральных сил АСМ / Т. А. Кузнецова, Т. И. Зубарь, В. А. Лапицкая и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 227-227 p.
Аннотация: Приведены результаты определения сил и коэффициентов трения между поверхностью модифицированных термоэластопластов и кремниевым наконечником зонда АСМ. Показана зависимость определяемых характеристик от скорости движения зонда. Выполнены исследования изменения Ктр в зависимости от количества циклов сканирования.
The results of friction forces and friction coefficients (Ffr and Cfr) determination between the modified thermoplastic elastomers surfaces and the silicon tip of AFM probe are presented. The dependence of Ffr and Cfr on the probe speed is shown. A study of the changes in Cfr depending on the number of scan cycles was made.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104080
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при поддержке грантов РФФИ № 16-53-00178 и БРФФИ № Ф16Р-142.
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_132.pdf355,12 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.