Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104075
Название: АСМ-анализ поверхности профилированной сульфокатионообменной мембраны после диализа растворов фенилаланина
Другие названия: AFM-analysis of the surface of a profiled sulfocation-exchange membrane after dialysis of phenylalanine solutions
Авторы: Голева, Е. А.
Васильева, В. И.
Goleva, E. A.
Vasil’eva, V. I.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Голева Е. А. АСМ-анализ поверхности профилированной сульфокатионообменной мембраны после диализа растворов фенилаланина / Е. А. Голева, В. И. Васильева // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 219 p.
Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии исследована поверхность профилированной катионообменной мембраны МК-40пр до и после диализа растворов аминокислоты. Определены микропрофили и среднестатистические параметры шероховатости поверхности исходной кондиционированной мембраны и образца после контакта с раствором фенилаланина.
The profiled cation-exchange membrane MK-40pr surface is explored by methods of a atomic-force microscopy before and after dialysis the amino acid solution. The microprofiles and the аverage statistical parameters of roughness of a surface of initial conditioned membrane and sample after contact with phenylalanine are obtained.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104075
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: АСМ-изображения получены в ЦКПНО ВГУ. Работа выполнена при финансовой поддержке РНФ (проект № 17-19-01486).
Карточка проекта РНФ: 17-19-01486
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_128.pdf387,69 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.