Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104052
Название: Зондовые методы испытания адгезионных и вязко-упругих свойств поверхности некоторых эластомеров
Другие названия: Probe Microscopy of Adhesive and Viscous parameters of Elastomers
Авторы: Загорский, Д. Л.
Гайнутдинов, Р. В.
Щербакова, О. О.
Муравьева, Т. И.
Zagorskiy, D. L.
Gainutdinov, R.V.
Shcherbakova, O. O.
Muravyeva, T. I.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Зондовые методы испытания адгезионных и вязко-упругих свойств поверхности некоторых эластомеров / Д. Л. Загорский, Р. В. Гайнутдинов, О. О. Щербакова и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 185 p.
Аннотация: В работе исследовалось влияние различных модификаторов (технический углерод, оксид графена и фторсодержащий модификатор) на эксплуатационные свойства низкотемпературных уплотнительных резин. Показано, что введение технического углерода, приводит к значительному увеличению прочности и модулей при растяжении.
The influence of different Modifying Agents (Technical Carbon (TC), Graphene Oxide and fluorine composite) on operating parameters of Low-temperature Rubbers was investigated. It was shown that addition of TC leads to significant increase of strength and strain modulus.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104052
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа проведена при поддержке гранта РНФ 14-29-00198.
Карточка проекта РНФ: 14-29-00198
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_107.pdf536,18 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.