Реализация профилирования в твердомерах с использованием подходов СЗМ

Гладких, Е. В.; Кравчук, К. С.; Маслеников, И. И.; Русаков, A. А.; Прокудин, C. В.; Усеинов, А. С.; Gladkikh, E. V.; Kravchuk, K. S.; Maslenikov, I. I.; Rusakov, A. A.; Prokudin, S. V.; Useinov, A. S.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104051

Название:	Реализация профилирования в твердомерах с использованием подходов СЗМ
Другие названия:	Implementation of profiling in hardness testers with application of SPM methods
Авторы:	Гладких, Е. В. Кравчук, К. С. Маслеников, И. И. Русаков, A. А. Прокудин, C. В. Усеинов, А. С. Gladkikh, E. V. Kravchuk, K. S. Maslenikov, I. I. Rusakov, A. A. Prokudin, S. V. Useinov, A. S.
Дата публикации:	2017
Издатель:	Ural Federal University
Библиографическое описание:	Реализация профилирования в твердомерах с использованием подходов СЗМ / Е. В. Гладких, К. С. Кравчук, И. И. Маслеников и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 183 p.
Аннотация:	Реализован режим профилирования на твердомерах семейства «НаноСкан-4D», основанный на регистрации фазового сдвига между возбуждающей силой и возникающими колебаниями. Были определены оптимальные режимы работы, обеспечивающие высокую скорость профилирования при минимальном механическом воздействии на поверхность образца. The profiling mode in NanoScan-4D family hardness testers is based on recording the phase shift between the generating force and the excited oscillations. Optimal parameters were determined to provide a high velosity of profiling with minimal mechanical influence on the surface of the sample.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104051
Конференция/семинар:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара:	27.08.2017-30.08.2017
ISBN:	978-5-9500624-0-7
Источники:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_106.pdf		302,6 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать полное описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.