Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104043
Название: Зарождение, развитие и перспективы развития метрологической техники на базе МЭМС и НЕМС
Другие названия: Origin, development and prospects for development of metrological equipment based on MEMS and NEMS
Авторы: Быков, В. А.
Bykov, V. A.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Быков В. А. Зарождение, развитие и перспективы развития метрологической техники на базе МЭМС и НЕМС / В. А. Быков // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 5-5 p.
Аннотация: В 2021 году исполнится 40 лет со времени официального открытия методов туннельной микроскопии. За это время метод прошел период мощного развития и сегодня сканирующая зондовая микроскопия/спектроскопия – это один из наиболее мощных методов исследования наноструктур в приложениях от молекулярной биологии до микроэлектроники и космической техники. В лекции будут представлены основные вехи и современные возможности методов СЗМ, а также рассмотрены возможности его дальнейшего развития.
In 2021 it will be 40 years since the official opening of scanning tunneling microscopy. During this time the method has passed a period of powerful development and today Scanning Probe Microscopy / Spectroscopy is one of the most powerful methods of studying nanostructures in applications from molecular biology to microelectronics and space technology. The lecture will present the main milestones and modern capabilities of SPM methods, as well as the possibilities of its further development.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104043
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_001.pdf276,14 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.