ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin film | 95 |
Посещений по месяцам
| июня 2024 | июля 2024 | августа 2024 | сентября 2024 | октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin film | 10 | 5 | 3 | 1 | 4 | 4 | 7 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 2-s2.0-84944338899.pdf | 110 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 51 |
| Россия | 19 |
| Австралия | 5 |
| Франция | 4 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Германия | 2 |
| Аргентина | 1 |
| Китай | 1 |
| Финляндия | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 12 |
| Ashburn | 9 |
| Andover | 4 |
| Hanoi | 3 |
| San Mateo | 2 |
| Ada | 1 |
| Balashikha | 1 |
| Brisbane | 1 |
| Canberra | 1 |
| Chatswood | 1 |