Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии

Терехова, Ю. С.; Киселев, Д. А.; Солнышкин, А. В.; Силибин, М. В.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/101182

Title:	Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии
Authors:	Терехова, Ю. С. Киселев, Д. А. Солнышкин, А. В. Силибин, М. В.
Issue Date:	2021
Publisher:	Уральский федеральный университет
Citation:	Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии / Ю. С. Терехова, Д. А. Киселев, А. В. Солнышкин, М. В. Силибин // XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII) : сборник тезисов (Екатеринбург, 25-28 августа 2021 г.). — Екатеринбург: Уральский федеральный университет, 2021. — С. 265.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/101182
Conference name:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII)
Conference date:	25.08.2021-28.08.2021
ISBN:	978-5-9500624-4-5
Sponsorship:	Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (номер проекта 20-32-90115).
Origin:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII). — Екатеринбург, 2021
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-4-5_191.pdf		423,08 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record