1. Электронный научный архив УрФУ

Просмотр коллекции по группе - По тематике STRUCTURE CHARACTERIZATION

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 1 из 1
Дата публикацииНазваниеАвторы
2016Sn-loss effect in a Sn-implanted a-SiO 2 host-matrix after thermal annealing: A combined XPS, PL, and DFT studyZatsepin, D. A.; Zatsepin, A. F.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.
Отображение результатов 1 до 1 из 1