Просмотр коллекции по группе - По тематике АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 6 из 6
Дата публикацииНазваниеАвторы
2020АСМ-исследование морфологии и свойств поверхности наноструктурированных композиционных материалов ППК–CdS и ППК–PbSКриничная, Е. П.; Иванова, О. П.; Завьялов, С. А.; Журавлева, Т. С.
2020Влияние концентрации наполнителя на спектральные свойства, топографию поверхности и структуру пленок ППК-CdSИванова, О. П.; Криничная, Е. П.; Кривандин, А. В.; Завьялов, С. А.; Журавлева, Т. С.
2018Применение атомно-силовой микроскопии для наноструктурного исследования бейнита конструкционной стали HY-TUFYudin, Yu. V.; Maisuradze, M. V.; Kuklina, A. A.; Юдин, Ю. В.; Майсурадзе, М. В.; Куклина, А. А.
2020Синтез и исследование структуры поверхности модифицированных полипараксилиленовых пленокКриничная, Е. П.; Иванова, О. П.; Завьялов, С. А.; Журавлева, Т. С.
2020Формирование структуры поверхности сплава системы Al–Si, подвергнутого электронно-пучковой обработке с различной плотностью энергии пучка электроновButakova, K. A.; Abaturova, A. A.; Zaguliaev, D. V.; Kosinov, D. A.; Бутакова, К. А.; Абатурова, А. А.; Загуляев, Д. В.; Косинов, Д. А.
2013Фрактальный анализ АСМ-изображений химически осажденных пленок Cu–Ga–SeФедорова, Е. А.; Маскаева, Л. Н.; Марков, В. Ф.; Мошников, В. А.; Пермяков, Н. В.; Fedorova, E. A.; Maskaeva, L. N.; Markov, V. P.; Moshnikov, V. A.; Permjakov, N. V.