Skip navigation
Главная
Просмотреть
Разделы
и коллекции
Посмотреть:
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
Источники
Справка
Язык
English
русский
Зарегистрированным:
Авторизация
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Авторам
ISSN:
2310-757X
Электронный научный архив УрФУ
Просмотр коллекции по группе - Источники Аналитика и контроль. 2010. № 2
Перейти к:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
или введите несколько первых букв:
Сортировка:
по заглавию
по дате публикации
по дате сохранения
Упорядочить:
по возрастанию
по убыванию
Вывести на страницу:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Авторы:
все
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Отображение результатов 2 до 7 из 7
< назад
Дата публикации
Название
Авторы
2010
Определение бора в геологических пробах атомно-эмиссионным спектральным методом с применением дугового двухструйного плазмотрона
Заякина, С. Б.
;
Аношин, Г. Н.
;
Zayakina, S. B.
;
Anoshin, G. N.
2010
Определение содержания и валентного состояния железа и марганца в железомарганцевых конкрециях по эмиссионным линиям K-серии рентгеновского флуоресцентного спектра
Чубаров, В. М.
;
Финкельштейн, А. Л.
;
Гранина, Л. З.
;
Chubarov, V. М.
;
Finkelshtein, А. L.
;
Granina, L. Z.
2010
Основной химический состав и содержание некоторых микрокомпонентов в минеральных водах Обуховского месторождения
Жернакова, З. М.
;
Деева, Н. Н.
;
Москаленко, Н. И.
;
Молчанова, Н. Г.
;
Zhernakova, Z. M.
;
Deeva, N. N.
;
Moskalenko, N. I.
;
Molchanova, N. G.
2010
Особенности методик анализа геологических образцов с использованием рентгенофлуоресцентных спектрометров с полным внешним отражением (TXRF)
Ревенко, А. Г.
;
Revenko, A. G.
2010
Прямой атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида вольфрама с использованием дуги постоянного тока и двухструйной дуговой плазмы
Комиссарова, Л. Н.
;
Моисеенко, Е. П.
;
Заксас, Н. П.
;
Сапрыкин, А. И.
;
Komissarova, L. N.
;
Moiseenko, E. P.
;
Zaksas, N. P.
;
Saprykin, A. I.
2010
Электронная микроскопия для изучения микрокапсулированных объектов
Широкова, А. Г.
;
Пасечник, Л. А.
;
Борисов, С. В.
;
Яценко, С. П.
;
Shirokova, A. G.
;
Pasechnik, L. A.
;
Borisov, S. V.
;
Yatsenko, S. P.