Просмотр коллекции по группе - По автору Yun, S.
Отображение результатов 1 до 1 из 1
Дата публикации | Название | Авторы |
---|---|---|
2019 | Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery | Hong, S.; Cho, S.; Park, G.; Kim, H.; Li, P.; Ryu, J.; Oh, C.; Kim, H. J.; Kim, J.; Yun, S.; Oh, J.; Glasser, M.; Yeom, J.; Eom, S.; Jetybayeva, A.; Kim, H. G.; Han, Y. J. |