Полосы сдвига в стабильных при деформации ориентировках металлов с ОЦК-решеткой

Abstract

Методом ориентационной микроскопии (EBSD) были исследованы кристаллографические особенности формирования полос сдвига (ПС) в стабильных при холодной прокатке ориентировках ОЦК-решетки (на примере Fe–3%Si и Mo). В кристаллах {111}<112> формируются ПС с ориентировкой близкой к {110}<001>, находящиеся с матрицей в специальной разориентации близкой к Σ9. В кристаллах {112}…{111}<110> формируются ПС с ориентировками близкими к {110}<001>, находящиеся с матрицей в специальной разориентации, близкой к Σ5. В кристаллах {110}<110> формируются ПС с ориентировками близкими к {100}<001>, находящиеся с матрицей в специальной разориентации, близкой к Σ5. В кристаллах {001}<110> ПС не образуются. Показано, что во всех ориентировках образуются ПС двух типов, отличающиеся углами наклона к плоскости прокатки и степенью рассеяния ориентировки внутри полос.

The method of orientation microscopy (EBSD) was investigated by the crystallographic characteristics of shear bands (SBs) formation in the stable by cold rolling orientations of the BCC lattice (Fe–3% Si and Mo). In crystals {111}<112> are formed of SB with the orientation approximate to {110}<001>, which is a matrix in a special orientation near to Σ9. In crystals {112}...{111}<110> SB are generated with orientations approximate to {110}<001>, which is a matrix in a special orientation near to Σ5. In crystals {110}<110> are formed of SB with orientations approximate to {100}<001>, which is a matrix in a special orientation near to Σ5. In crystals {001}<110> SBs are not formed. It is shown that in all orientations of SB are formed of two types with different angles of inclination to the plane of rolling and the degree of scattering orientation within the bands.