Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/45760
Название: | Исследование поведения поверхностных дефектов в процессах ОМД |
Авторы: | Шихов, С. Е. Логинов, Ю. Н. |
Научный руководитель: | Логинов, Ю. Н. |
Дата публикации: | 2004 |
Издатель: | Уральский государственный технический университет - УПИ |
Библиографическое описание: | Шихов С. Е. Исследование поведения поверхностных дефектов в процессах ОМД / С. Е. Шихов, Ю. Н. Логинов // Научные труды VI отчетной конференции молодых ученых ГОУ ВПО УГТУ-УПИ: сборник статей. В 2-х ч. — Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2004. — Ч. 1. — С. 27-27. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/45760 |
Источники: | Научные труды VI отчетной конференции молодых ученых ГОУ ВПО УГТУ-УПИ. Ч. 1. — Екатеринбург, 2004 Вестник УГТУ-УПИ. Специальный выпуск, в 2-х ч. 2004. Ч. 1 |
Располагается в коллекциях: | Вестник УрФУ. Серия экономика и управление |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
ntmu_2004_1_003.pdf | 139,24 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.