Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/1549
Title: Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии"
Authors: Шишкин, Е. И.
Николаева, Е. В.
Issue Date: 2008
Publisher: б. и.
Citation: Шишкин, Евгений Игоревич. Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии" [Электронный ресурс] / Е. И. Шишкин, Е. В. Николаева ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (18 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2008.
Abstract: Целью специальной дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии" является теоретическое и практическое ознакомление студентов с одним из наиболее мощных и универсальных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердых тел с нанометровым пространственным разрешением. Задачи дисциплины: обзор методик сканирующей зондовой микроскопии, позволяющих исследовать локальные свойства поверхности твердых тел с высоким пространственным разрешением; - приобретение практических навыков использования сканирующей зондовой микроскопии для исследования наноматериалов с нанометровым пространственным разрешением; - знакомство с методами математической обработки и количественного анализа изображений, получаемых с помощью сканирующей зондовой микроскопии. УМКД включает программу дисциплины, руководство к лабораторным работам и практическим занятиям, вопросы для самоконтроля, методические указания, экзаменационные материалы, презентации лекций. Предназначен для студентов 3 курса.
Keywords: НАНОТЕХНОЛОГИИ
НАНОМАТЕРИАЛЫ
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ
СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/1549
Appears in Collections:Нанотехнологии и перспективные материалы

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1335041_presentation.ppt15,58 MBMicrosoft PowerpointView/Open
1335041_exam.pdf112,27 kBAdobe PDFView/Open
1335041_methodinst.pdf231,04 kBAdobe PDFView/Open
1335041_tests.pdf121,64 kBAdobe PDFView/Open
1335041_guide.pdf1,6 MBAdobe PDFView/Open
1335041_program.pdf219,53 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.