ISSN: 2310-757X
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/109837| Title: | Анализ ориентировок тонкой плёнки PZT с 10% La просвечивающей электронной микроскопией |
| Other Titles: | ORIENTATION ANALYSIS OF A PZT THIN FILM WITH 10% La BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY |
| Authors: | Колосов, В. Ю. Жигалина, О. М. Хмеленин, Д. Н. Бокуняева, А. О. Kolosov, V. Yu. Zhigalina, O. M. Khmelenin, D. N. Bokuniaeva, A. O. |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | Уральский федеральный университет |
| Citation: | Анализ ориентировок тонкой плёнки PZT с 10% La просвечивающей электронной микроскопией / В. Ю. Колосов, О. М. Жигалина, Д. Н. Хмеленин, А. О. Бокуняева // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 41-42. |
| Abstract: | Thin PZT films are one of the prominent materials in majority of chips and devices due to their ferroelectric properties.The main goal of this paper is analysis of orientations of the structure of crystals in a thin PZT (PbZr0.53 Ti0.47 O3) film with 10% La content. For this purpose we used the stereographical projection, extinction bend contours and transmission electron microscopy. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/109837 |
| Conference name: | V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова |
| Conference date: | 14.05.2018-18.05.2018 |
| Origin: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018) |
| Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2018_1_020.pdf | 420,7 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.