Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/109837
Название: Анализ ориентировок тонкой плёнки PZT с 10% La просвечивающей электронной микроскопией
Другие названия: ORIENTATION ANALYSIS OF A PZT THIN FILM WITH 10% La BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
Авторы: Колосов, В. Ю.
Жигалина, О. М.
Хмеленин, Д. Н.
Бокуняева, А. О.
Kolosov, V. Yu.
Zhigalina, O. M.
Khmelenin, D. N.
Bokuniaeva, A. O.
Дата публикации: 2018
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Анализ ориентировок тонкой плёнки PZT с 10% La просвечивающей электронной микроскопией / В. Ю. Колосов, О. М. Жигалина, Д. Н. Хмеленин, А. О. Бокуняева // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 41-42.
Аннотация: Thin PZT films are one of the prominent materials in majority of chips and devices due to their ferroelectric properties.The main goal of this paper is analysis of orientations of the structure of crystals in a thin PZT (PbZr0.53 Ti0.47 O3) film with 10% La content. For this purpose we used the stereographical projection, extinction bend contours and transmission electron microscopy.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/109837
Конференция/семинар: V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова
Дата конференции/семинара: 14.05.2018-18.05.2018
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018)
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2018_1_020.pdf420,7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.