ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/106722| Название: | МИКРОСТРУКТУРЫ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ Bi-Te ПО ДАННЫМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| Другие названия: | MICROSTRUCTURES IN THIN Bi-Te FILMS ACCORDING TO TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY |
| Авторы: | Yushkov, A. A. Kolosov, V. Yu. Юшков, А. А. Колосов, В. Ю. |
| Дата публикации: | 2020 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Юшков А. А. МИКРОСТРУКТУРЫ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ Bi-Te ПО ДАННЫМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ / А. А. Юшков, В. Ю. Колосов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 381-382. |
| Аннотация: | Thin gradient films of the Bi-Te system were obtained by thermal sputtering in vacuum. The methods of transmission electron microscopy revealed crystallographic orientations of the [100] [2-21] tellurium phase in the samples. The internal bending of the crystal lattice reaches 150 deg/μm. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/106722 |
| Конференция/семинар: | VII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университета |
| Дата конференции/семинара: | 18.05.2020-22.05.2020 |
| Сведения о поддержке: | Исследование выполнено при частичной финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 19-32-90255. |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020) |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2020_194.pdf | 414,26 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.