Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/106722
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorYushkov, A. A.en
dc.contributor.authorKolosov, V. Yu.en
dc.contributor.authorЮшков, А. А.ru
dc.contributor.authorКолосов, В. Ю.ru
dc.date.accessioned2021-12-30T04:55:19Z-
dc.date.available2021-12-30T04:55:19Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationЮшков А. А. МИКРОСТРУКТУРЫ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ Bi-Te ПО ДАННЫМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ / А. А. Юшков, В. Ю. Колосов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 381-382.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/106722-
dc.description.abstractThin gradient films of the Bi-Te system were obtained by thermal sputtering in vacuum. The methods of transmission electron microscopy revealed crystallographic orientations of the [100] [2-21] tellurium phase in the samples. The internal bending of the crystal lattice reaches 150 deg/μm.en
dc.description.sponsorshipИсследование выполнено при частичной финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 19-32-90255.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020)ru
dc.titleМИКРОСТРУКТУРЫ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ Bi-Te ПО ДАННЫМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИru
dc.title.alternativeMICROSTRUCTURES IN THIN Bi-Te FILMS ACCORDING TO TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPYen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameVII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университетаru
dc.conference.date18.05.2020-22.05.2020-
local.description.firstpage381-
local.description.lastpage382-
local.fund.rffi19-32-90255-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2020_194.pdf414,26 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.