Skip navigation
Главная
Просмотреть
Разделы
и коллекции
Посмотреть:
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
Источники
Справка
Язык
English
русский
Зарегистрированным:
Авторизация
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Авторам
ISSN:
2310-757X
Электронный научный архив УрФУ
Поиск
Поиск:
Весь архив электронных ресурсов
00. Общеуниверситетские коллекции
01. Высшая инженерная школа
02. Институт экономики и управления
03. Зональная научная библиотека
04. Военный учебный центр
06. Уральский гуманитарный институт
07. Институт естественных наук и математики
09. Институт материаловедения и металлургии
10. Институт радиоэлектроники и информационных технологий - РТФ
12. Институт физической культуры, спорта и молодежной политики
13. Институт фундаментального образования
14. Механико-машиностроительный институт
15. Наукометрическая лаборатория
15. Нижнетагильский технологический институт (филиал)
16. Политехнический институт (филиал) в г. Каменске-Уральском
17. Специализированный учебно-научный центр УрФУ
18. Институт строительства и архитектуры
19. Уральский энергетический институт
20. Физико-технологический институт
21. Химико-технологический институт
22. Тематические коллекции
запрос
Текущие фильтры:
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
Очистить
Добавить фильтры:
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
По заглавию
По автору
По тематике
По дате
Равно
Содержит
Идентификатор
Не равно
Не содержит
Не идентификатор
Результаты 1-10 из 59.
назад
1
2
3
4
...
6
дальше
Найденные ресурсы:
Дата публикации
Название
Авторы
2021
Формирование широкой доменной границы при локальном облучении электронным и ионным пучками в монокристаллах ниобата бария-стронция
Шихова, В. А.
;
Нураева, А. С.
;
Чезганов, Д. С.
;
Пашнина, Е. А.
;
Небогатиков, М. С.
;
Грешняков, Е. Д.
;
Турыгин, А. П.
;
Аникин, В. А.
;
Ивлева, Л. И.
;
Шур, В. Я.
2021
Формирование квазирегулярных доменных структур в результате лазерного сканирования кристаллов танталата лития
Кособоков, М. С.
;
Макаев, А. В.
;
Кузнецов, Д. К.
;
Шур, В. Я.
2020
Создание поверхностных наноструктур оксида цинка при обработке пластин металла горячей водой
Парфенов, А. В.
;
Кузнецов, Д. К.
;
Шур, В. Я.
2021
Исследование эволюции доменной структуры при переключении поляризации кристаллов семейства многоосного релаксорного сегнетоэлектрика магнониобата-титаната свинца
Ушаков, A. Д.
;
Шур, В. Я.
;
Hu, Q.
;
Liu, X.
;
Xu, Z.
;
Wei, X.
2021
Микроструктурные особенности и комплексные электромеханические параметры бессвинцовых cегнетопьезокерамик
Швецова, Н. А.
;
Луговая, М. А.
;
Швецов, И. А.
;
Турыгин, А. П.
;
Шур, В. Я.
;
Рыбянец, А. Н.
2021
Формы изолированных доменов в одноосных сегнетоэлектриках
Шур, В. Я.
;
Ахматханов, А. Р.
;
Есин, А. А.
;
Чувакова, М. А.
;
Кособоков, М. С.
;
Пелегова, Е. В.
2021
Создание регулярных доменных структур с субмикронными периодами в тонких пленках ниобата лития на изоляторе
Слаутин, Б. Н.
;
Шур, В. Я.
;
Zhu, H.
2021
Создание электронным пучком регулярных доменных структур в монокристаллах КТР
Пашнина, Е. А.
;
Нураева, А. С.
;
Небогатиков, М. С.
;
Чезганов, Д. С.
;
Шур, В. Я.
2021
Локальное переключение на неполярном срезе в ниобате лития с различными отклонениями от стехиометрического состава
Грешняков, Е. Д.
;
Турыгин, А. П.
;
Пряхина, В. И.
;
Шур, В. Я.
2021
Создание тонких пленок BiFeO3 золь-гель методом с послойным контролем морфологии и фазового состава
Сафина, В. А.
;
Абрамов, А. С.
;
Соболь, А. Г.
;
Слабов, В.
;
Трусов, Л. А.
;
Васильев, А. В.
;
Шур, В. Я.
;
Холкин, А. Л.
;
Аликин, Д. О.
Фильтр
По автору
15
Shur, V. Ya.
12
Shur, V. Y.
8
Небогатиков, М. С.
7
Alikin, D. O.
7
Chezganov, D. S.
7
Грешняков, Е. Д.
6
Katsnelson, B. A.
6
Shishkina, E. V.
6
Shur, V.
6
Turygin, A. P.
.
Вперед >
По тематике
5
NANOPARTICLES
4
ARTICLE
4
CADMIUM
4
CONTROLLED STUDY
4
DOMAIN WALLS
4
NIOBIUM COMPOUNDS
4
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
4
SCANNING PROBE MICROSCOPY
3
CHARGED DOMAIN WALL
3
ELECTRIC FIELDS
.
Вперед >
По дате
34
2021
25
2020