ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/99269| Название: | Рассеяние ультракоротких импульсов электромагнитного поля на наносистемах с дефектами в задачах рентгеноструктурного анализа |
| Другие названия: | SCATTERING OF ULTRASHORT PULSES OF ELECTROMAGNETIC FIELD BY NANOSYSTEMS WITH DEFECTS FOR THE GOALS OF X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS |
| Авторы: | Макаров, Д. Н. Матвеев, В. И. |
| Дата публикации: | 2016 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Макаров Д. Н. Рассеяние ультракоротких импульсов электромагнитного поля на наносистемах с дефектами в задачах рентгеноструктурного анализа / Д. Н. Макаров, В. И. Матвеев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 349-350. |
| Аннотация: | The influence of defects in nanostructured targets on interference spectra for reradiation of attosecond pulses of electromagnetic field is considered. The general expressions are obtained for the spectral distributions of one-dimensional, two-dimensional and threedimensional nanosystems with complex defects such as bends, breaks and vacancies. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/99269 |
| Конференция/семинар: | III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Дата конференции/семинара: | 16.05.2016-20.05.2016 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2016_220.pdf | 280,24 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.