Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99223
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMoskalev, M. E.en
dc.contributor.authorLepalovskij, V. N.en
dc.contributor.authorVas’kovskiy, V. O.en
dc.date.accessioned2021-06-22T08:08:26Z-
dc.date.available2021-06-22T08:08:26Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationMoskalev M. E. Annealing dependence of exchange bias in Fe20Ni80/NixMn100-x thin films / M. E. Moskalev, V. N. Lepalovskij, V. O. Vas’kovskiy // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 49-50.en
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/99223-
dc.description.sponsorshipThis work has been supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, project RFMEFI57815X0125.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016ru
dc.titleAnnealing dependence of exchange bias in Fe20Ni80/NixMn100-x thin filmsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»ru
dc.conference.date16.05.2016-20.05.2016-
local.description.firstpage49-
local.description.lastpage50-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2016_018.pdf533,17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.