Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99136
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМельникова, А. П.ru
dc.contributor.authorВолков, А. В.ru
dc.contributor.authorКругликов, Н. А.ru
dc.contributor.authorОвчиников, С. В.ru
dc.date.accessioned2021-06-22T08:08:13Z-
dc.date.available2021-06-22T08:08:13Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationИзмерение электросопротивления четырехконтактным методом под пучком для образцов из Fe69Ni31 случайной геометрии / А. П. Мельникова, А. В. Волков, Н. А. Кругликов, С. В. Овчиников // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 177-178.en
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/99136-
dc.description.abstractResistivity measurements were carried out using the method of van der Pauw.en
dc.description.sponsorshipРабота выполнена в рамках государственного задания ФАНО России (тема «Деформация», № 01201463327).ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016ru
dc.titleИзмерение электросопротивления четырехконтактным методом под пучком для образцов из Fe69Ni31 случайной геометрииru
dc.title.alternativeMEASUREMENT OF ELECTRICAL RESISTANCE BYA FOER BEAM FOR A RANRAM SAMPLE Fe69Ni31en
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»ru
dc.conference.date16.05.2016-20.05.2016-
local.description.firstpage177-
local.description.lastpage178-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2016_100.pdf607,35 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.