Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98919
Название: Механизмы электропереноса в тонкопленочных структурах [ZnO/SiO2]25
Другие названия: CONDUCTIVITY MECHANISMS IN [ZnO/SiO2]25 THIN-FILM STRUCTURES
Авторы: Бассараб, В. В.
Жилова, О. В.
Каширин, М. А.
Макагонов, В. А.
Панков, С. Ю.
Фошин, В. А.
Дата публикации: 2019
Издатель: ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»
Библиографическое описание: Механизмы электропереноса в тонкопленочных структурах [ZnO/SiO2]25 / В. В. Бассараб, О. В. Жилова, М. А. Каширин, В. А. Макагонов, С. Ю. Панков, В. А. Фошин // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 171-172.
Аннотация: [ZnO/SiO2]25 thin-film structures were obtained by ion-beam sputtering. Hopping mechanism of conductivity with a variable length of hops over localized states near the Fermi level as the temperature rises from 77 to 300 K.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98919
Конференция/семинар: VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ
Дата конференции/семинара: 20.05.2019-24.05.2019
ISBN: 978-5-8295-0640-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки в рамках проектной части государственного задания (3.1867.2017/4.6).
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_086.pdf327,61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.