Изучение микроструктуры композитного Ti-Al-Si-N покрытия с использованием Kβ рентгеновского излучения

Кукушкин, Д. Е.; Чукин, А. В.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98608

Title:	Изучение микроструктуры композитного Ti-Al-Si-N покрытия с использованием Kβ рентгеновского излучения
Other Titles:	STUDYING THE MICROSTRUCTURE OF COMPOSITE Ti-Al-Si-N COATING USING Kβ X-RAY
Authors:	Кукушкин, Д. Е. Чукин, А. В.
Issue Date:	2019
Publisher:	ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»
Citation:	Кукушкин Д. Е. Изучение микроструктуры композитного Ti-Al-Si-N покрытия с использованием Kβ рентгеновского излучения / Д. Е. Кукушкин, А. В. Чукин // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 725-726.
Abstract:	We study the microstructure of composite coating based on titanium nitride by X-ray diffraction in this paper. A feature of our study is the use of the Kβ line of the characteristic X-ray spectrum to study the structural features of the surface layers. The two systems of reflections for Kα and Kβ radiation appearing on the diffractogram are used to analyze the integral information obtained from material layers located at different depths.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/98608
Conference name:	VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ
Conference date:	20.05.2019-24.05.2019
ISBN:	978-5-8295-0640-7
Origin:	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-8295-0640-7_2019_435.pdf		326,38 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar