Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/88034
Название: Анализ причин возникновения интенсивных автоколебаний в контурах управления оптико-электронных систем
Другие названия: ANALYSIS OF THE CAUSES OF INTENSIVE SELF-OSCILLATIONS IN CONTROL LOOPS OPTOELECTRONIC SYSTEMS
Авторы: Будаи, Б. Т.
Снегин, К. А.
Дата публикации: 2015
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Будаи Б. Т. Анализ причин возникновения интенсивных автоколебаний в контурах управления оптико-электронных систем / Б. Т. Будаи, К. А. Снегин // II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» : тезисы докладов (Екатеринбург, 20–24 апреля 2015 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2015. — C. 83-84.
Аннотация: Nowadays it is more and more important the application of optoelectronic systems (OES). To increase the measurement accuracy of the coordinates observed object are commonly used control loops of ECO (CL OES). In such CL OES can arise self-oscillations (SO) with large amplitude, comparable to the amplitude of the permissible error of CL OES and with a frequency close to the cut-off frequency of CL OES. There were found algorithms, ensuring the elimination of AK with large amplitude.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/88034
Конференция/семинар: II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015»
Second International Youth Scientific Conference «Physics. Technologies. Innovations. PTI-2015»
Дата конференции/семинара: 20.04.2015-24.04.2015
ISBN: 978-5-8295-0349-9
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2015). — Екатеринбург, 2015
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0349-9_2015_045.pdf487,63 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.