Анализ СЭМ изображений наноструктурного пористого анодного AI2O3

Рябинина, М. В.; Звонарев, С. В.; Ryabinina, М.V.; Zvonarev, S. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/88027

Название:	Анализ СЭМ изображений наноструктурного пористого анодного AI2O3
Другие названия:	THE ANALYSIS OF SEM IMAGES OF NANOSTRUCTURAL POROUS ANODE AI2O3
Авторы:	Рябинина, М. В. Звонарев, С. В. Ryabinina, М.V. Zvonarev, S. V.
Дата публикации:	2015
Издатель:	Уральский федеральный университет
Библиографическое описание:	Рябинина М. В. Анализ СЭМ изображений наноструктурного пористого анодного AI2O3 / М. В. Рябинина, С. В. Звонарев // II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» : тезисы докладов (Екатеринбург, 20–24 апреля 2015 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2015. — C. 74-75.
Аннотация:	SEM images of nanostructural anode oxide of aluminum are received. Pore size distributions are obtained and discussed. The main characteristics of investigated material are defined.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/88027
Конференция/семинар:	II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» Second International Youth Scientific Conference «Physics. Technologies. Innovations. PTI-2015»
Дата конференции/семинара:	20.04.2015-24.04.2015
ISBN:	978-5-8295-0349-9
Источники:	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2015). — Екатеринбург, 2015
Располагается в коллекциях:	Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-8295-0349-9_2015_039.pdf		521,24 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать полное описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.