Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/88027
Название: Анализ СЭМ изображений наноструктурного пористого анодного AI2O3
Другие названия: THE ANALYSIS OF SEM IMAGES OF NANOSTRUCTURAL POROUS ANODE AI2O3
Авторы: Рябинина, М. В.
Звонарев, С. В.
Ryabinina, М.V.
Zvonarev, S. V.
Дата публикации: 2015
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Рябинина М. В. Анализ СЭМ изображений наноструктурного пористого анодного AI2O3 / М. В. Рябинина, С. В. Звонарев // II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015» : тезисы докладов (Екатеринбург, 20–24 апреля 2015 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2015. — C. 74-75.
Аннотация: SEM images of nanostructural anode oxide of aluminum are received. Pore size distributions are obtained and discussed. The main characteristics of investigated material are defined.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/88027
Конференция/семинар: II Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2015»
Second International Youth Scientific Conference «Physics. Technologies. Innovations. PTI-2015»
Дата конференции/семинара: 20.04.2015-24.04.2015
ISBN: 978-5-8295-0349-9
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2015). — Екатеринбург, 2015
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0349-9_2015_039.pdf521,24 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.