ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Способ калибровки слитка полупроводникового материала | 108 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Способ калибровки слитка полупроводникового материала | 11 | 2 | 2 | 2 | 6 | 0 | 4 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 2682564.pdf | 196 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 47 |
| Россия | 33 |
| Франция | 5 |
| Германия | 3 |
| Соединенное Королевство | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Бельгия | 2 |
| Австралия | 1 |
| Болгария | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 15 |
| Placentia | 4 |
| Hanoi | 3 |
| San Mateo | 3 |
| Yekaterinburg | 2 |
| Ashburn | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Mumbai | 1 |
| Mytishchi | 1 |
| Orenburg | 1 |