Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/10995/83186
Название: X-ray Diffraction Investigation of Sio2/Si Track Templates with Deposited Zn
Авторы: Dauletbekova, A.
Alzhanova, A.
Akylbekov, A.
Baubekova, G.
Дата публикации: 2018
Издатель: Knowledge E
Библиографическое описание: X-ray Diffraction Investigation of Sio2/Si Track Templates with Deposited Zn / A. Dauletbekova, A. Alzhanova, A. Akylbekov, G. Baubekova // Russian Forum of Young Scientists (RFYS) (Ekaterinburg, Russia, 27–28 April , 2017). – Dubai : Knowledge E, 2018. – KnE Engineering, 3 (5). – pp. 39-45. – DOI 10.18502/keg.v3i4.2223
Аннотация: Si/SiO2/Zn structures are fabricated by the track template synthesis. SEM and AFM images of the surface after electrochemical deposition of zinc were obtained. XRD analysis of the deposited samples showed the creation of zinc oxide nanocrystals with Miller indexes (200) at θ=62,30 and (201) at θ=69,50 (PDF#361451-etalon).
URI: http://hdl.handle.net/10995/83186
Условия доступа: Creative Commons Attribution License
Текст лицензии: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Конференция/семинар: Russian Forum of Young Scientists (RFYS)
Дата конференции/семинара: 27.04.2017-28.04.2017
ISSN: 2518-6841
DOI: 10.18502/keg.v3i4.2223
Источники: Russian Forum of Young Scientists (RFYS). — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:Междисциплинарные конференции, семинары, сборники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.18502_keg.v3i4.2223.pdf6,78 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Лицензия на ресурс: Лицензия Creative Commons Creative Commons