Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216
Название: | Инструментально-программный методический комплекс «Математическое моделирование свойств наноматериалов» («MMPN») |
Номер патента: | 2015661632 |
Авторы: | Штанг, Т. В. Звонарев, С. В. Кортов, В. С. |
Дата публикации: | 2015-11-20 |
Аннотация: | Программный комплекс предназначен для изучения студентами процессов, происходящих в твердых телах при различном внешнем воздействии, а также позволяет освоить современные методы математического моделирования в физике, химии, биологии, инженерных науках и самостоятельно решать сложные научно-исследовательские задачи, находить оптимальные алгоритмы и решения. Программный комплекс состоит из основной программы и 4-х модулей: «Моделирование процессов электрического пробоя в заряженных при облучении кристаллических диэлектриках», «Моделирование процессов транспорта и эмиссии электронов в наноструктурных диэлектриках при действии электрического поля», «Моделирование процессов заряжения поверхности и приповерхностных слоев наноструктурных материалов при электронной бомбардировке», «Моделирование люминесценции и кинетики затухания в наноструктурных диэлектриках». |
Ключевые слова: | COMPUTER SOFTWARE ПРОГРАММА ДЛЯ ЭВМ |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216 |
Идентификатор РИНЦ: | 39339008 |
Идентификатор PURE: | 12551104 |
Вид РИД: | Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ |
Патентообладатель: | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина» |
Располагается в коллекциях: | Патенты и изобретения |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
2015661632.pdf | 173,76 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.