Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216
Название: Инструментально-программный методический комплекс «Математическое моделирование свойств наноматериалов» («MMPN»)
Номер патента: 2015661632
Авторы: Штанг, Т. В.
Звонарев, С. В.
Кортов, В. С.
Дата публикации: 2015-11-20
Аннотация: Программный комплекс предназначен для изучения студентами процессов, происходящих в твердых телах при различном внешнем воздействии, а также позволяет освоить современные методы математического моделирования в физике, химии, биологии, инженерных науках и самостоятельно решать сложные научно-исследовательские задачи, находить оптимальные алгоритмы и решения. Программный комплекс состоит из основной программы и 4-х модулей: «Моделирование процессов электрического пробоя в заряженных при облучении кристаллических диэлектриках», «Моделирование процессов транспорта и эмиссии электронов в наноструктурных диэлектриках при действии электрического поля», «Моделирование процессов заряжения поверхности и приповерхностных слоев наноструктурных материалов при электронной бомбардировке», «Моделирование люминесценции и кинетики затухания в наноструктурных диэлектриках».
Ключевые слова: COMPUTER SOFTWARE
ПРОГРАММА ДЛЯ ЭВМ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216
Идентификатор РИНЦ: 39339008
Идентификатор PURE: 12551104
Вид РИД: Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
Патентообладатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина»
Располагается в коллекциях:Патенты и изобретения

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2015661632.pdf173,76 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.