Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216
Title: Инструментально-программный методический комплекс «Математическое моделирование свойств наноматериалов» («MMPN»)
Patent Number: 2015661632
Authors: Штанг, Т. В.
Звонарев, С. В.
Кортов, В. С.
Issue Date: 2015-11-20
Abstract: Программный комплекс предназначен для изучения студентами процессов, происходящих в твердых телах при различном внешнем воздействии, а также позволяет освоить современные методы математического моделирования в физике, химии, биологии, инженерных науках и самостоятельно решать сложные научно-исследовательские задачи, находить оптимальные алгоритмы и решения. Программный комплекс состоит из основной программы и 4-х модулей: «Моделирование процессов электрического пробоя в заряженных при облучении кристаллических диэлектриках», «Моделирование процессов транспорта и эмиссии электронов в наноструктурных диэлектриках при действии электрического поля», «Моделирование процессов заряжения поверхности и приповерхностных слоев наноструктурных материалов при электронной бомбардировке», «Моделирование люминесценции и кинетики затухания в наноструктурных диэлектриках».
Keywords: COMPUTER SOFTWARE
ПРОГРАММА ДЛЯ ЭВМ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82216
RSCI ID: 39339008
PURE ID: 12551104
Patent Type: Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
Patent Owner: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина»
Appears in Collections:Патенты и изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2015661632.pdf173,76 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.