1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80832
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorJityaev, I. L.en
dc.contributor.authorSvetlichnyi, A. M.en
dc.contributor.authorAvilov, V. I.en
dc.contributor.authorKots, I. N.en
dc.contributor.authorKolomiytsev, A. S.en
dc.contributor.authorAgeev, O. A.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:51Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:51Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationInfluence of the focused ion beam parameters on the etching of planar nanosized multigraphene/SiC field emitters / I. L. Jityaev, A. M. Svetlichnyi, V. I. Avilov, I. N. Kots, A. S. Kolomiytsev, O. A. Ageev // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 131.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80832-
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Collective Usage Center “Nanotechnologies” and the Research and Educational Center "Nanotechnologies" of Southern Federal University was used for this study. This work was funded by Internal grant of Southern Federal University No. VnGr-07/2017-26.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleInfluence of the focused ion beam parameters on the etching of planar nanosized multigraphene/SiC field emittersen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage131-
local.description.lastpage131-
local.description.orderP-32-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_091.pdf265,25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.