Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80748
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorLebedev, V. A.en
dc.contributor.authorPoluboiarinov, A. S.en
dc.contributor.authorSakaev, R. M.en
dc.contributor.authorChelpanov, V. I.en
dc.contributor.authorKozlov, D. A.en
dc.contributor.authorKhazova, K. A.en
dc.contributor.authorPhilippov, Ya. Yu.en
dc.contributor.authorKhokhlov, A. V.en
dc.contributor.authorGarshev, A. V.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:32Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:32Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationIn-situ nanoindentation of titania microspheres with different crystallinity / V. A. Lebedev, A. S. Poluboiarinov, R. M. Sakaev, V. I. Chelpanov, D. A. Kozlov, K. A. Khazova, Ya. Yu. Philippov, A. V. Khokhlov, A. V. Garshev // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 232.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80748-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by the Lomonosov MSU Program of Development.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleIn-situ nanoindentation of titania microspheres with different crystallinityen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage232-
local.description.lastpage232-
local.description.orderP-107-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_166.pdf316,42 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.